Мы предлагаем тестирование отгружаемой электронной компонентной базы в независимых лабораториях.  Для сравнительно простых устройств в малых партиях достаточно использовать функциональное тестирование, а для простой электроники в крупных сериях — внутрисхемное тестирование, т.к. оно обеспечивает максимальную скорость. Для тестирования цифровой электроники с поддержкой технологии JTAG оптимальным выбором будет периферийное сканирование, оно позволяет отладить процесс производства и скорректировать его на ранних этапах.